高分辨二次離子質譜儀tof-sims是非常靈敏的表面分析手段，憑借質譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能，廣泛應用于醫學、細胞學、地質礦物學、半導體、微電子、物理學、材料化學、納米科學、礦物學、生命科學等領域。

Kore SurfaceSeer S在飛行時間二次離子質譜儀 （TOF-SIMS） 系列中，是一款高性價比且經久耐用的產品。它是研究樣品表面化學成分的理想選擇，適用于研發和工業質量控制應用。

高分辨二次離子質譜儀tof-sims是非常靈敏的表面分析手段，它將脈沖一次離子束聚焦到樣品表面，在濺射過程中產生二次離子。分析這些二次離子可提供有關樣品表面的分子、無機和元素種類的信息。其憑借質譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能，廣泛應用于醫學、細胞學、地質礦物學、半導體、微電子、物理學、材料化學、納米科學、礦物學、生命科學等領域。

Kore SurfaceSeer S型號的高分辨二次離子質譜儀tof-sims使用的是5keV Cs+離子束（可選惰性氣體Ar+），該離子束是脈沖式的，以限度地減少連續離子束可能造成的表面損傷。 在每100µs TOF 循環中，該離子槍的脈沖時間僅為60ns，因此，主光束提供的電流比連續打開時少1000倍以上。典型的10s實驗時間所產生的電流僅相當于幾毫秒的連續光束電流。 要達到所謂的“靜態SIMS"極限，需要在一個點上進行幾分鐘的分析，在這個點上，表面損傷在數據中變得清晰可見(取決于焦點和光 束電流)。盡管離子劑量較低，這款TOF分析儀還是非常高效的，這就說明了它具有較高的二次離子數據速率（即使在離子產率相對較低 的聚合物上，也通常為5000 c/s）。

TOF-SIMS的高表面靈敏度使其成為解決問題的良好起點，可以對樣品中存在的物質類型進行概述。然后可以使用其他技術來獲取其他信息。TOF-SIMS還可以檢測到比傳統表面分析技術（如XPS和Auger）低得多的物質水平。

SurfaceSeer S 儀器特點：

• 配備5keV Ar+/Cs+脈沖式離子束，以限度地減少連續離子束可能造成的表面損傷，實現樣品“無損"分析；
  

• 針對工業領域的低成本TOF-SIMS儀器；

• 均適用于導電物體表面和絕緣物體表面的分析 ；

• 可在1~2min內實現高速率的正負質譜分析；

• 質量分辨率可達 >2,500 m/δm (FWHM)；

• 適用于導電物體表面和絕緣物體表面的分析。

SurfaceSeerS應用領域:

表面化學

黏附力

分層

印刷適性

表面改性

等離子體處理

痕量分析（表面ppm）

催化劑

同位素分析

表面污染